失败模式
在各种类型的密封失效中，这是诊断中最难的，因为问题在O形圈上不可见。
问题来源
- 缺乏压缩
- 宽容堆叠
- 偏心组件
- 分型线/闪光
- 密封/腺体卷关系不当
建议的解决方案
- 维护应用程序的推荐压缩范围
- 识别伸展量，因为它减少了随着伸展量增加的O形环横截面
- 确定组件容差堆叠，因为它直接影响密封截面
- 考虑设计中的最大组件偏移，以确保压缩仍包含在推荐的压缩范围内
- 避免在O形圈槽中分开线，因为它们往往是闪光和不匹配的区域
- 确保O形圈腺体容量超过O形圈体积以允许密封膨胀而无需密封损害
在各种类型的密封失效中，这是诊断中最难的，因为问题在O形圈上不可见。